Studium strukturních vlastností supermřížek pomocí rtg reflexe – Mgr. Jakub Rozbořil
Mgr. Jakub Rozbořil
Bakalářská práce
Studium strukturních vlastností supermřížek pomocí rtg reflexe
Investigation of structural properties of superlattices using x-ray diffraction
Anotace:
Předložená práce se zabývá studiem kompletní struktury, tj. stanovením tlouštěk, počtu vrstev a drsností rozhraní ve vzorcích multivrstev, pomocí rentgenové reflexe. Metoda spočívá v analýze rtg reflexní křivky a jejím srovnání se simulacemi. Zkoumány byly dva polovodičové vzorky, u kterých byla experimentálně stanovená struktura srovnána s nominální strukturou, a dva vzorky rtg zrcadel, jejichž strukturní …víceAbstract:
This thesis deals with a study of complete structure, i.e. determination of thicknesses, number of layers and roughnesses of interfaces in multilayer samples, using X-ray reflectivity. The method is based on analysis of an x-ray reflection curve and its comparison with simulations. Two semiconductor samples were studied, where the experimentally determined structure was compared with nominal structure …více
Jazyk práce: čeština
Datum vytvoření / odevzdání či podání práce: 21. 5. 2012
Identifikátor:
https://is.muni.cz/th/nvxpx/
Obhajoba závěrečné práce
- Obhajoba proběhla 22. 6. 2012
- Vedoucí: Mgr. Mojmír Meduňa, Ph.D.
Citační záznam
Plný text práce
Obsah online archivu závěrečné práce
Zveřejněno v Theses:- světu
Jak jinak získat přístup k textu
Instituce archivující a zpřístupňující práci: Masarykova univerzita, Přírodovědecká fakultaMasarykova univerzita
Přírodovědecká fakultaBakalářský studijní program / obor:
Fyzika / Fyzika
Práce na příbuzné téma
-
Pokročilé aplikace rentgenové reflektivity a metody analýzy dat
Karolína Pěčková -
Modelling of X-ray initiated processes: Method development and applications
Daniel Hollas -
Study of percolation phenomena in particle mixtures using X-ray microtomography
Dan Unzeitig -
Příprava scintilační vrstvy z nanoprášku pro X-ray analýzu
Ondřej Zapadlík -
X‐ray Phase Contrast Imaging with Hybrid Semiconductor Pixel Detectors
František Krejčí -
Analýza závad na DPS pomocí X-RAY
Martin Mlýnek