Depozice vrstev organických molekul metodou Langmuira-Blodgettové

Bc. Klára Suchánková

Bakalářská práce

Deposition of Langmuir-Blodgett films of Organic Molecules

Anotace:

Tato bakalářská práce se věnuje studiu depozice tenkých vrstev kyseliny stearové metodou Langmuira-Blodgettové na křemíkový substrát. Nanesené vrstvy jsou studovány pomocí rentgenové difrakce a mikroskopie atomárních sil. Výstupem této práce je zhodnocení vlivu různých povrchových úprav substrátu a depozičních parametrů na kvalitu nanesené vrstvy určené pomocí rtg difrakce a AFM. Dále je u vybraných vzorků zhodnocena drsnost nanesené vrstvy, homogenita nanesené vrstvy a také je zkoumáno možné stárnutí vrstvy. Součástí bakalářské práce je i vytvoření stručného návodu pro zacházení s Langmuir-Blodgettovou vaničkou KSV NIMA v čistých prostorách ÚFKL MU.

Abstract:

This bachelor thesis deals with the deposition of thin layers of stearic acid on a silicon substrate using the Langmuir-Bloddget method. The deposited layers are studied via X-Ray diffraction and atomic force microscopy. The aim of this work is to evaluate the influence of various surface treatments of the substrate and deposition parameters on the quality of the deposited layers determined by rtg diffraction and AFM. For selected samples roughness and homogenity of the deposited layers are also evaluated. Additionally, possible aging of the deposited layer is also being studied. Finally, a brief practical guide for using the Langmuir-Blodgget trough KSV NIMA in the clean rooms of the Department of Condensed Matter Physics at Masaryk University (ÚFKL MU) is also attached.

Klíčová slova

tenké vrstvy, depozice Langmuira-Blodgettové, fázový diagram, p(V) diagram, povrchové napětí, kyselina stearová, rtg reflektivita, Braggův zákon, Kiessigovy oscilace, Laueho oscilace, Braggovy píky, AFM, střední kvadratická drsnost, thin layers, Langmuir-Blodgett deposition, phase diagram, surface tension, stearic acid, X-ray reflectivity, Bragg's law, Kiessig oscillations, Laue oscillations, Bragg peaks, root-mean-square roughness

Jazyk práce: čeština

Datum vytvoření / odevzdání či podání práce: 16. 5. 2017

Obhajoba závěrečné práce

• Obhajoba proběhla 21. 6. 2017
• Vedoucí: Mgr. Jiří Novák, Ph.D.

Masarykova univerzita

Přírodovědecká fakulta

Bakalářský studijní program / obor:
Aplikovaná fyzika / Nanotechnologie - aplikovaná fyzika