Mgr. Patrick Gono

Bachelor's thesis

Studium vybraných struktur pomocí mikroskopie atomárních sil

Study of selected structures using atomic force microscopy
Abstract:
In this bachelor thesis we study quantum dots using atomic force microscopy (AFM). We take a closer look on the principles, function and common artifacts of this experimental method. Using AFM we inspect the effect of growth parameters, e.g. thickness and composition of GaAsSb layers, on the size and shape of InAs quantum dots. We compare the base area and elongation of quantum dots on ten samples …more
Abstract:
V tejto bakalárskej práci sa venujeme mikroskopii atómových síl (AFM). Zameriavame sa na princípy, funkciu a bežné chyby tejto experimentálnej metódy. Pomocou AFM zisťujeme vplyv výrobných parametrov, akými sú hrúbka a zloženie krycej vrstvy GaAsSb, na veľkosť a tvar kvantových bodiek InAs. Porovnávame obsah základne a predĺženie kvantových bodiek na desiatich vzorkách pripravených metódou MOVPE. Študujeme …more
 

Keywords

AFM mikroskopia atómových síl artefakt bezkontaktný režim kontaktný režim poklepový režim kvantové bodky krycia vrstva InAs GaAsSb atomic force microscopy artifact non-contact mode contact mode tapping mode quantum dots strain reducing layer
 
Language used: Slovak
Date on which the thesis was submitted / produced: 23. 5. 2014
Identifier: https://is.muni.cz/th/cmsxi/

Thesis defence

  • Date of defence: 23. 6. 2014
  • Supervisor: Mgr. Petr Klenovský, Ph.D.

Citation record

Cite this text

Full text of thesis

Contents of on-line thesis archive
Published in Theses:
  • světu
Other ways of accessing the text
Institution archiving the thesis and making it accessible: Masarykova univerzita, Přírodovědecká fakulta
Složka Reference to the local database directory of the institution

Masaryk University

Faculty of Science

Bachelor programme / field:
Physics / Physics

Theses on a related topic

List of theses with an identical keyword.