Měření šumu nízkofrekvenčních tranzistorů

Martin Moštěk

Bakalářská práce

The Measurement of the Noise of Bipolar Junction Transistors

Anotace:

Cílem této práce je navrhnout přípravek pro měření šumu nízkofrekvenčních bipolárních tranzistorů a následně ověřit jeho funkčnost pomocí programu Bode 100. Výrobek je rozdělen do dvou částí a to základní desky a modulů. Základní deska obsahuje napájecí část přípravku a operační zesilovač s výstupem na konektor BNC pro měření hodnot pomocí programu Bode 100 a konektor jack k poslechu daného šumu. Moduly obsahují tranzistorový zesilovač a patici, která umožňuje snadnou výměnu tranzistorů.

Abstract:

The goal of this thesis is to design a device for measurement of noise in low-noise BJT and verify its functionality with program Bode 100. The device contains two parts, motherboard and modules. Motherboard contains power supply and amplifier with BNC output for measurement in program Bode 100 and jack connector for listening of the noise. Modules contain transistor amplifier with a socket for easy exchange of transistors.

Klíčová slova

Deska plošných spojů, DPS, Nízkofrekvenční tranzistor, Nízkofrekvenční BJT, Šum, Měření šumu

Jazyk práce: čeština

Datum vytvoření / odevzdání či podání práce: 17. 5. 2021

Obhajoba závěrečné práce

Univerzita Tomáše Bati ve Zlíně

Fakulta aplikované informatiky

Bakalářský studijní program / obor:
Inženýrská informatika / Informační a řídicí technologie