Spektrální analýza dat z optického měření topografie povrchů materiálů

Jaromír Zavadil

Disertační práce

Spectral analysis of data acquired using optical measurement of surface topography

Anotace:

Disertační práce se zabývá dvourozměrnou Fourierovou transformací a možnostmi jejího využití pro analýzu a hodnocení dat získaných měřením topografie povrchu obráběných materiálů. Práce stručně popisuje princip měření topografie povrchu a metody používané k vyhodnocení naměřených dat, které jsou v současnosti obsaženy v technických normách. Největší část práce je věnována dvourozměrné Fourierově transformaci, jejím vlastnostem, metodám výpočtu, dále také přehledu typů nerovností povrchu a jejich zobrazení ve dvourozměrných spektrech včetně verifikace teoretických předpokladů na reálném měření. Navržená metoda automatizovaného vyhodnocení vlastností povrchu z vypočtených dvourozměrných spekter spočívá v prahování spekter a sledování změn oblastí vysokých a nízkých frekvencí. Navržené metody byly ověřovány nejprve na datech naměřených profesionálním optickým profilometrem a poté také na sestaveném funkčním vzorku kamerového systému.

Abstract:

This dissertation thesis is focused on two dimensional Fourier transform and possibilities of its use for analysis and evaluation of data acquired from measurement of surface topography. Principles of surface topography measurements are briefly described as well as methods used for processing of the topographical data which are currently included in technical standards. The main part of this thesis is dedicated to the two dimensional Fourier transformation, its properties and calculation methods. It also focuses on an overview of surface irregularities and its visualization in the two dimensional spectral maps. Theoretical assumptions were verified using practical measurements. The proposed method for automated evaluation of surface properties is based on the two dimensional Fourier spectral maps. It includes thresholding of spectral maps and evaluation of changes in the areas with low and high frequencies. The proposed methods were first tested on data acquired using professional optical profilometer and after that also using camera system designed for this purpose.

Klíčová slova

spektrální analýza, Fourierova transformace, spektrum, referenční rovina, topografie povrchu, korelace, optické měření, zpracování obrazu, kamerový systém

Keywords

spectral analysis, Fourier transform, spectrum, reference datum, surface topography, correlation, optical measurement, image processing, camera system

Jazyk práce: čeština

Datum vytvoření / odevzdání či podání práce: 31. 8. 2016

Obhajoba závěrečné práce

• Obhajoba proběhla 23. 6. 2017
• Vedoucí: Jiří Tůma
• Oponent: Aleš Procházka, Miloš Šeda, Eduard Sojka

VŠB - Technická univerzita Ostrava

Fakulta strojní

Doktorský studijní program / obor:
Strojní inženýrství / Řízení strojů a procesů