Studium mechanických vlastností materiálů pomocí AFM – Mgr. Kamila Dobranská
Mgr. Kamila Dobranská
Bachelor's thesis
Studium mechanických vlastností materiálů pomocí AFM
Studies of the mechanical properties of materials with AFM
Anotácia:
Tato bakalářská práce se věnuje studiu fyzikálních vlastností látek pomocí mikroskopie atomových sil (AFM, z anglického názvu Atomic force microscope). V první čáasti jsem se věnovala optimálnímu nastavení AFM mikroskopu pro zobrazení tenkých vrstev kyseliny stearové, tedy snímání topografie v dotykovém a poklepovém módu. Následně jsem pomocí F-d spektroskopie ověřovala existenci těchto vrstev za předpokladu …viacAbstract:
This bachelor´s degree graduation thesis describes the Atomic Force Microscope (AFM) scanning method usage for consequential imaging and measuring of the physical properties for different substance surfaces. Within the first part of my study I have focused on optimal settings of AFM microscope device allowing me to properly image thin Stearic Acid layers beeing scanned in both Contact and Tapping modes …viac
Jazyk práce: Czech
Datum vytvoření / odevzdání či podání práce: 26. 5. 2009
Identifikátor:
https://is.muni.cz/th/i4xzi/
Obhajoba závěrečné práce
- Obhajoba proběhla 2. 7. 2009
- Vedúci: Mgr. Karel Kubíček, PhD.
- Oponent: RNDr. Alois Nebojsa
Plný text práce
Obsah online archivu závěrečné práce
Zveřejněno v Theses:- světu
Jak jinak získat přístup k textu
Instituce archivující a zpřístupňující práci: Masarykova univerzita, Přírodovědecká fakultaMasaryk University
Faculty of ScienceBachelor programme / odbor:
Applied Physics / Medical Physics
Práce na příbuzné téma
-
Studium rozbalování proteinů s použitím AFM
Barbora Javorská -
Nanoscale imaging with atomic force microscopy (AFM)
Veronika Horáčková -
Zobrazování fágových částic pomocí AFM mikroskopie
Simona Zahrádková -
Biomechanika srdečních buněk, AFM studie
Barbora Veselá -
Studium biomechaniky buněk s použitím AFM nanoindentace
Zuzana Bertová -
Studium imunointerakcí pomocí AFM
Patrik Gereg -
Výzkum pokročilých mikroskopických a litografických technik AFM
Kamil Vaněk -
Vývoj měřící komory pro měření pomocí AFM
Patrik Biener