Evaluace a administrace kritických parametrů pro měření testovacích obrazců na křemíkových deskách

Petr BALÁŠ

Bachelor's thesis

Evaluation and Administration of Critical Parameters for tests on silicon wafers

Anotácia:

Náplní diplomové práce je vytvořit řešení pro vytváření smysluplných výstupů z měření křemíkových desek a jejich kritických parametrů. Začíná se shromážděním dat z testerů křemíkových desek, které se poté zpracují do stavu, aby bylo možno nalézt a evaluovat jednotlivé kritické parametry na desce. Také je potřeba vytvořit prostředí pro administraci kritických parametrů, k čemuž budou mít přístup pouze oprávněné osoby.

Abstract:

The main goal of the thesis is a development of solution, which should be able to process a meaningful output using the results of silicon wafer testing. It would begin with data gathering from testers of silicon wafers and procesing of this data to a point, where application would be able to evaluate critical parameters of each wafer. It is also important to develop environment for administration of these critical parameters, which would be accessible to only certain group of people.

Kľúčové slová

Křemíkové desky, evaluace kritických parametrů, administrace kritických parametrů

Jazyk práce: Czech

Datum vytvoření / odevzdání či podání práce: 23. 4. 2014

Zverejniť od: 23. 4. 2014

Obhajoba závěrečné práce

• Vedúci: RNDr. Marek Vajgl, Ph.D.

University of Ostrava

Faculty of Science

Bachelor programme / odbor:
Information Science / Information Science