Image Distortion Correction in Panorama Stitching in SEM

Bc. Ján Bella

Diplomová práce

Anotace:

Cieľom práce bolo zadefinovať model geometrického skreslenia, ktoré vzniká pri snímaní panoramatických obrazov v rastrovacích elektrónových mikroskopoch, určiť parametre tohto modelu pre dané sady obrazových dlaždíc s využitím znalosti obrazových prekryvov a aplikovať model pri zošívaní dlaždíc do panorám. V porovnaní s bežnými metódami korekcie skreslenia, takto získaný obraz veľkosťou a tvarom presnejšie zodpovedá jeho predlohe.

Abstract:

The aim of the thesis was to define a distortion model of the imaging process of Scanning Electron Microscope, estimate the parameters of the model given image tiles and knowledge of overlapping regions, and apply the model while stitching image tiles into a panorama. In comparison to standard distortion correction methods, the resultant panoramas should correspond more accurately to the scanned objects in terms of their shapes and sizes.

Keywords

Scanning Electron Microscopy, image registration, panorama stitching, distortion correction, feature detection, feature matching, constrained non-linear optimization, polynomial optimization, simulated annealing

Jazyk práce: angličtina

Datum vytvoření / odevzdání či podání práce: 26. 5. 2017

Obhajoba závěrečné práce

• Obhajoba proběhla 23. 6. 2017
• Vedoucí: doc. RNDr. Pavel Matula, Ph.D.
• Oponent: RNDr. Vladimír Ulman, Ph.D.

Masarykova univerzita

Fakulta informatiky

Magisterský studijní program / obor:
Aplikovaná informatika / Zpracování obrazu