Zobrazování struktur elektronických systémů užitím skenovací mikrovlnné mikroskopie\nl{} – Bc. Tomáš MARTÍNEK
Bc. Tomáš MARTÍNEK
Master's thesis
Zobrazování struktur elektronických systémů užitím skenovací mikrovlnné mikroskopie\nl{}
Projection of Structures of Electronic Systems Using Scanning Microwave Microscopy\nl{}
Anotácia:
Tato diplomová práce se zabývá zobrazovacími metodami mikroskopie se skenující sondou a skenovacím systémem Agilent 5420 SPM/AFM od společnosti Agilent Technologies. Možnosti tohoto systému jsou zanalyzovány a demonstrovány na několika praktických aplikacích.Abstract:
This diploma thesis deal with imaging methods of Scanning Probe Microscopy and scanning system Agilent 5420 SPM/AFM from Agilent Technologies. Possibilities of this system are analyzed and demonstrated by several practical applications.
Jazyk práce: Czech
Datum vytvoření / odevzdání či podání práce: 29. 5. 2013
Zverejniť od: 29. 5. 2013
Obhajoba závěrečné práce
Citační záznam
Citace dle ISO 690:
MARTÍNEK, Tomáš. \textit{Zobrazování struktur elektronických systémů užitím skenovací mikrovlnné mikroskopie$\backslash$nl$\{\}$}. Online. Diplomová práca. Zlín: Univerzita Tomáše Bati ve Zlíně, Faculty of Applied Informatics. 2013. Dostupné z: https://theses.cz/id/qcmrsc/.
Jak správně citovat práci
MARTÍNEK, Tomáš. Zobrazování struktur elektronických systémů užitím skenovací mikrovlnné mikroskopie\nl{}. Zlín, 2013. diplomová práce (Ing.). Univerzita Tomáše Bati ve Zlíně. Fakulta aplikované informatiky
Plný text práce
Právo: Autor si přeje zpřístupnit práci veřejnosti od 29.5.2013
Obsah online archivu závěrečné práce
Zveřejněno v Theses:- Soubory jsou od 29. 5. 2013 dostupné: autentizovaným zaměstnancům ze stejné školy/fakulty
Jak jinak získat přístup k textu
Instituce archivující a zpřístupňující práci: Univerzita Tomáše Bati ve Zlíně, Fakulta aplikované informatikyPlny text prace je k dispozici v elektronicke podobe
Tomas Bata University in Zlín
Faculty of Applied InformaticsMaster programme / odbor:
Engineering Informatics / Security Technologies, Systems and Management
Práce na příbuzné téma
-
Zobrazování polovodičových struktur užitím mikroskopie atomárních sil\nl{}
Josef KUDĚLKA -
Dokování proteinů do map z mikroskopie atomárních sil
Pavol Mikulaj -
Tvorba bezpečnostních značek pomocí mikroskopie atomárních sil
Josef KUDĚLKA -
Speciální metody mikroskopie atomárních sil.
Michal Brixí -
Mikroskopie atomárních sil polotuhých materiálů
Anna Šudáková -
Automatické vyhodnocení obrázků DNA origami z mikroskopie atomárních sil
Kristýna Jirásková -
Využití mikroskopie atomárních sil ke studiu hydrogelových systémů
Kateřina Lišková -
Využití mikroskopie atomárních sil ke studiu vybraného bakteriálního kmene
Simona Nováková