Rentgenová reflektometrie organických vrstev – Mgr. Marek Havrila, Ph.D.
Mgr. Marek Havrila, Ph.D.
Bakalářská práce
Rentgenová reflektometrie organických vrstev
X-ray reflectometry on organic layers
Abstract:
This work deals with the study of thin organic layers by the method of X-ray reflectometry and assessment of the layer characterization by this method. In the theoretical part the principals of LB - technique of layer deposition and X-ray reflectometry of multilayers are described. The results obtained by reflectometry are compared with the results of AFM measurements and the details about layer deposition …víceAbstract:
Táto práca sa zaoberá štúdiom tenkých organických vrstiev pomocou RTG reflektometrie a hodnotením možností štruktúrnej charakterizácie vrstiev pomocou tejto metódy. V teoretickej časti popisuje princípy LB – metódy nanášania vrstiev a RTG reflektometrie multivrstiev. Výsledky získané pomocou reflektometrie porovnáva s výsledkami z AFM meraní a berie pri tom do úvahy údaje o nanášaní vrstiev. Na záver …více
Jazyk práce: slovenština
Datum vytvoření / odevzdání či podání práce: 19. 5. 2010
Identifikátor:
https://is.muni.cz/th/hxxcf/
Obhajoba závěrečné práce
- Obhajoba proběhla 29. 6. 2010
- Vedoucí: Mgr. Ondřej Caha, Ph.D.
Plný text práce
Obsah online archivu závěrečné práce
Zveřejněno v Theses:- světu
Jak jinak získat přístup k textu
Instituce archivující a zpřístupňující práci: Masarykova univerzita, Přírodovědecká fakultaMasarykova univerzita
Přírodovědecká fakultaBakalářský studijní program / obor:
Fyzika / Biofyzika
Práce na příbuzné téma
- Žádné práce na příbuzné téma.