Určení parametrů jednoduché tenké vrstvy pomocí spektra odrazivosti. – Matúš ÁGH
Matúš ÁGH
Bachelor's thesis
Určení parametrů jednoduché tenké vrstvy pomocí spektra odrazivosti.
Measurement of single thin layer parameters from reflectance spectrum
Abstract:
Táto práca sa venuje meraniu odrazivosti rovinných plôch pomocou spektrálneho fotometru a ďalej je popísané využitie týchto meraní pre výpočet parametrov jednoduchej neabsorbujúcej tenkej vrstvy. Výpočet parametrov bol riešený iteračnou metódou v dvoch krokoch. Algoritmus riešenia bol naprogramovaný v prostredí Matlabu. Programovací kód, v ktorom boli výpočty prevedené, je v záverečnej kapitole uvedený …moreAbstract:
This thesis deals with measuring reflectance of planar surfaces using spectral photometer and with calculation of optical parameters of single non-absorbing thin layer on the basis of reflectance measurements. Two-step iteration method was used to calculate thickness and refractive index. Computational algorithm was programmed in Matlab environment. Source code used for final computing is shown and …more
Language used: Czech
Date on which the thesis was submitted / produced: 7. 5. 2015
Accessible from:: 7. 5. 2015
Thesis defence
- Supervisor: RNDr. Ing. Jan Podloucký
Citation record
The right form of listing the thesis as a source quoted
ÁGH, Matúš. Určení parametrů jednoduché tenké vrstvy pomocí spektra odrazivosti.. Olomouc, 2015. bakalářská práce (Bc.). UNIVERZITA PALACKÉHO V OLOMOUCI. Přírodovědecká fakulta
Full text of thesis
Accessibility: Autor si přeje zpřístupnit práci veřejnosti od 7.5.2015
Contents of on-line thesis archive
Published in Theses:- Soubory jsou od 7. 5. 2015 dostupné: světu
Other ways of accessing the text
Institution archiving the thesis and making it accessible: UNIVERZITA PALACKÉHO V OLOMOUCI, Přírodovědecká fakultaPALACKÝ UNIVERSITY IN OLOMOUC
Faculty of ScienceBachelor programme / field:
Physics / Digital and Instrument Optics
Theses on a related topic
Name
Posted by
Uploaded/Created
Rights