ŠÍPEK, Vojtěch. \textit{Využití obrazové analýzy a jejích algoritmů při defektoskopii nanovlákenných vrstev}. Online. Diplomová práce. Praha: České vysoké učení technické v Praze. 2019. Dostupné z: https://theses.cz/id/xepm35/.
ŠÍPEK, Vojtěch. <i>Využití obrazové analýzy a jejích algoritmů při defektoskopii nanovlákenných vrstev</i>. Online. Diplomová práce. Praha: České vysoké učení technické v Praze. 2019. Dostupné z: https://theses.cz/id/xepm35/.
ŠÍPEK, Vojtěch. Využití obrazové analýzy a jejích algoritmů při defektoskopii nanovlákenných vrstev. Online. Diplomová práce. Praha: České vysoké učení technické v Praze. 2019. Dostupné z: https://theses.cz/id/xepm35/.
@MastersThesis{Sipek2019thesis,
AUTHOR = "Šípek, Vojtěch",
TITLE = "Využití obrazové analýzy a jejích algoritmů při defektoskopii nanovlákenných vrstev [online]",
YEAR = "2019 [cit. 2024-07-22]",
TYPE = "Diplomová práce",
SCHOOL = "České vysoké učení technické v PrazePraha",
NOTE = "SUPERVISOR: ",
URL = "https://theses.cz/id/xepm35/",
}
@MastersThesis{Sipek2019thesis,
AUTHOR = {Šípek, Vojtěch},
TITLE = {Využití obrazové analýzy a jejích algoritmů při defektoskopii nanovlákenných vrstev},
YEAR = {2019},
TYPE = {Diplomová práce},
INSTITUTION = {České vysoké učení technické v Praze},
LOCATION = {Praha},
SUPERVISOR = {},
URL = {https://theses.cz/id/xepm35/},
URL_DATE = {2024-07-22},
}
{{Citace kvalifikační práce
| příjmení = Šípek
| jméno = Vojtěch
| instituce = České vysoké učení technické v Praze
| titul = Využití obrazové analýzy a jejích algoritmů při defektoskopii nanovlákenných vrstev
| url = https://theses.cz/id/xepm35/
| typ práce = Diplomová práce
| vedoucí =
| rok = 2019
| počet stran =
| strany =
| citace = 2024-07-22
| poznámka =
| jazyk =
}}