Zpět na vyhledávání

Práce na stejné téma (mají shodná klíčová slova):

specificka opticka stacivost

Klíčová slova abecedně | Klíčová slova dle četnosti

Characterization of special anisotropic structures using Mueller matrix ellipsometry
 (Daniel Vala)

2018, Bakalářská práce, Univerzitní studijní programy / VŠB - Technická univerzita Ostrava

• http://hdl.handle.net/10084/130268 | Nanotechnologie / | Práce na příbuzné téma

Seznam prací, které mají shodná klíčová slova.

Optical activity measurement using Mueller matrix ellipsometry
 (Daniel Vala)

2020, Diplomová práce, Univerzitní studijní programy / VŠB – Technická univerzita Ostrava

• http://hdl.handle.net/10084/141702 | Nanotechnologie / | Práce na příbuzné téma