Mgr. Tomáš Šamořil

Bachelor's thesis

Srovnání spektroskopické elipsometrie a spektroskopické reflektometrie při určování hodnot tlouštěk a optických konstant vybraných tenkých vrstev

Anotácia:
Tato práce je zaměřena na srovnání spektroskopické elipsometrie a spektroskopické reflektometrie při určování hodnot tlouštěk a optických konstant vybraných tenkých vrstev. Pro měření byly konkrétně vybrány kvalitní vrstvy SiO2 na Si. Po měření na elipsometru a spektrofotometru následovala vyhodnocení naměřených dat. Výsledky zpracování, které následují po popisu metod určení optických parametrů, jsou …viac
Abstract:
This work is focused on comparison of spectroscopic ellipsometry with spectroscopic reflectometry on determination the values of thicknesses and optical constants of choice thin films. For the measurement were chosen quality layers SiO2 upon Si concretely. After the measurement on ellipsometer and spectrofotometer followed evaluation of measuring data. The results of the evaluation, which succeed to …viac
 
 
Jazyk práce: Czech
Datum vytvoření / odevzdání či podání práce: 26. 5. 2006

Obhajoba závěrečné práce

  • Obhajoba proběhla 29. 6. 2006
  • Vedúci: prof. RNDr. Ivan Ohlídal, DrSc.

Citační záznam

Plný text práce

Obsah online archivu závěrečné práce
Zveřejněno v Theses:
  • světu
Jak jinak získat přístup k textu
Instituce archivující a zpřístupňující práci: Masarykova univerzita, Přírodovědecká fakulta

Masaryk University

Faculty of Science

Bachelor programme / odbor:
Physics / Physics