Ellipsometric measurement methods in infrared range using phase modulation – Tomáš Horák
Tomáš Horák
Bakalářská práce
Ellipsometric measurement methods in infrared range using phase modulation
Ellipsometric measurement methods in infrared range using phase modulation
Anotace:
Spektroskopická infračervená elipsometrie je optická metoda určená k charakterizaci vlastností tenkovrstevných systémů. Tato metoda kombinuje infračervenou spektroskopii a elipsometrii. Hlavní výhodou elipsometrie je měření dvou spektrálně svázaných úhlů \Psi a \Delta a využití těchto parametrů k určení charakteristik zkoumaného materiálu, např. indexu lomu. V této práci je představen popis (teoretický …víceAbstract:
Spectroscopic infrared ellipsometry is an optical method intended for characterization of thin-film systems properties. The method combines the infrared spectroscopy and the ellipsometry. The main advantage of ellipsometry is the measurement of two spectrally tied ellipsometric angles \Psi and \Delta and use of these parameters for the determination of some characteristics of measured material, e.g …více
Jazyk práce: angličtina
Datum vytvoření / odevzdání či podání práce: 18. 5. 2012
Identifikátor:
http://hdl.handle.net/10084/94222
Obhajoba závěrečné práce
- Obhajoba proběhla 12. 6. 2012
- Vedoucí: Kamil Postava
- Oponent: David Hrabovský
Citační záznam
Citace dle ISO 690:
HORÁK, Tomáš. \textit{Ellipsometric measurement methods in infrared range using phase modulation}. Online. Bakalářská práce. Ostrava: Vysoká škola báňská - Technická univerzita Ostrava, Univerzitní studijní programy. 2012. Dostupné z: https://theses.cz/id/espgif/.
Plný text práce
Právo: Plné texty vysokoškolských kvalifikačních prací obhájených na Vysoké škole báňské - Technické univerzitě Ostrava jsou uloženy v repozitáři DSpace. Přístup k plným textům mají všichni uživatelé bez omezení. Přístup je omezen pouze ve výjimečných případech, zpravidla z důvodu ochrany duševního vlastnictví. Nepřístupné práce jsou označeny jako closedAccess nebo embargoedAccess. Tištěné verze prácí jsou uloženy v Ústřední knihovně VŠB-TUO a jsou prezenčně přístupné ve studovně diplomových prací. Další nakládání s prací (kopírování, opisy, MVS) se řídí Knihovní a výpůjčním řádem Ústřední knihovny VŠB-TUO.
Obsah online archivu závěrečné práce
Zveřejněno v Theses:- autentizovaným zaměstnancům ze stejné školy/fakulty
Jak jinak získat přístup k textu
Instituce archivující a zpřístupňující práci: VŠB - Technická univerzita OstravaVŠB - Technická univerzita Ostrava
Univerzitní studijní programyBakalářský studijní program / obor:
Nanotechnologie / Nanotechnologie
Práce na příbuzné téma
-
Time-domain terahertz ellipsometry and polarimetric applications of spintronic emitters
Pierre Koleják -
Optical activity measurement using Mueller matrix ellipsometry
Daniel Vala -
Characterization of special anisotropic structures using Mueller matrix ellipsometry
Daniel Vala -
Mueller matrix ellipsometry of special samples
Přemysl Ciompa -
Optical and magneto-optical spectroscopic ellipsometry of thin layers and nanostructures
Ondřej Vlašín