Bc. Tomáš MARTÍNEK

Master's thesis

Zobrazování struktur elektronických systémů užitím skenovací mikrovlnné mikroskopie\nl{}

Projection of Structures of Electronic Systems Using Scanning Microwave Microscopy\nl{}
Abstract:
Tato diplomová práce se zabývá zobrazovacími metodami mikroskopie se skenující sondou a skenovacím systémem Agilent 5420 SPM/AFM od společnosti Agilent Technologies. Možnosti tohoto systému jsou zanalyzovány a demonstrovány na několika praktických aplikacích.
Abstract:
This diploma thesis deal with imaging methods of Scanning Probe Microscopy and scanning system Agilent 5420 SPM/AFM from Agilent Technologies. Possibilities of this system are analyzed and demonstrated by several practical applications.
 

Keywords

Mikroskopie atomárních sil skenovací mikrovlnná mikroskopie metrologie vizualizace
 
Language used: Czech
Date on which the thesis was submitted / produced: 29. 5. 2013
Accessible from:: 29. 5. 2013

Thesis defence

Citation record

Cite this text
The right form of listing the thesis as a source quoted

MARTÍNEK, Tomáš. Zobrazování struktur elektronických systémů užitím skenovací mikrovlnné mikroskopie\nl{}. Zlín, 2013. diplomová práce (Ing.). Univerzita Tomáše Bati ve Zlíně. Fakulta aplikované informatiky

Full text of thesis

Accessibility: Autor si přeje zpřístupnit práci veřejnosti od 29.5.2013

Contents of on-line thesis archive
Published in Theses:
  • Soubory jsou od 29. 5. 2013 dostupné: autentizovaným zaměstnancům ze stejné školy/fakulty
Other ways of accessing the text
Institution archiving the thesis and making it accessible: Univerzita Tomáše Bati ve Zlíně, Fakulta aplikované informatiky
Plny text prace je k dispozici v elektronicke podobe
https://portal.utb.cz/stag?urlid=prohlizeni-prace-detail&praceIdno=31285 Reference to the local database file of the institution