Rafaela Aliaj

Master's thesis

Analýza povrchu čipu konfokální mikroskopií

The analysis of decapsulated chip surface with confocal microscopy
Abstract:
This thesis on using confocal microscopy to detect counterfeit electronic components is one of the first of its kind. It consists of two parts: theoretical background and practical experimentation.
Abstract:
Tato práce se zabývá možnostmi využití konfokální mikroskopie k rozpoznání rysů nepůvodních systémů na čipu (SoC) integrovaného obvodu a je jednou z prvních v oblasti aplikace konfokální mikroskopie. Práce sestává ze dvou částí, části teoretické a části experimentální.
 

Keywords

systém na čipu (SoC) konfokální mikroskop s laserovým skenováním (LSCM) původní a nepůvodní elektronická součástka
 
Language used: English
Date on which the thesis was submitted / produced: 13. 8. 2021

Thesis defence

Citation record

Cite this text
The right form of listing the thesis as a source quoted

Aliaj, Rafaela. Analýza povrchu čipu konfokální mikroskopií. Zlín, 2021. diplomová práce (Ing.). Univerzita Tomáše Bati ve Zlíně. Fakulta aplikované informatiky

Full text of thesis

Contents of on-line thesis archive
Published in Theses:
  • autentizovaným zaměstnancům ze stejné školy/fakulty
Other ways of accessing the text
Institution archiving the thesis and making it accessible: Univerzita Tomáše Bati ve Zlíně, Fakulta aplikované informatiky
Plny text prace je k dispozici v elektronicke podobe
https://portal2.utb.cz/StagPortletsJSR168/CleanUrl?urlid=prohlizeni-prace-detail&praceIdno=60026 Reference to the local database file of the institution