Rafaela Aliaj

Diplomová práce

Analýza povrchu čipu konfokální mikroskopií

The analysis of decapsulated chip surface with confocal microscopy
Abstract:
This thesis on using confocal microscopy to detect counterfeit electronic components is one of the first of its kind. It consists of two parts: theoretical background and practical experimentation.
Abstract:
Tato práce se zabývá možnostmi využití konfokální mikroskopie k rozpoznání rysů nepůvodních systémů na čipu (SoC) integrovaného obvodu a je jednou z prvních v oblasti aplikace konfokální mikroskopie. Práce sestává ze dvou částí, části teoretické a části experimentální.
 

Keywords

systém na čipu (SoC) konfokální mikroskop s laserovým skenováním (LSCM) původní a nepůvodní elektronická součástka
 
Jazyk práce: angličtina
Datum vytvoření / odevzdání či podání práce: 13. 8. 2021

Obhajoba závěrečné práce

Citační záznam

Citovat tuto práci
Jak správně citovat práci

Aliaj, Rafaela. Analýza povrchu čipu konfokální mikroskopií. Zlín, 2021. diplomová práce (Ing.). Univerzita Tomáše Bati ve Zlíně. Fakulta aplikované informatiky

Plný text práce

Obsah online archivu závěrečné práce
Zveřejněno v Theses:
  • autentizovaným zaměstnancům ze stejné školy/fakulty
Jak jinak získat přístup k textu
Instituce archivující a zpřístupňující práci: Univerzita Tomáše Bati ve Zlíně, Fakulta aplikované informatiky
Plny text prace je k dispozici v elektronicke podobe
https://portal2.utb.cz/StagPortletsJSR168/CleanUrl?urlid=prohlizeni-prace-detail&praceIdno=60026 Odkaz na soubor do lokálního úložiště instituce