Modeling of polarization properties of diffracting surfaces – Tomáš Kohut
Tomáš Kohut
Master's thesis
Modeling of polarization properties of diffracting surfaces
Modeling of polarization properties of diffracting surfaces
Anotácia:
Tato diplomová práce se zabývá modelováním difrakce a polariza4ní odezvy pomocí vektorového difrakčního integrálu a zobrazení difrakčního obrazce pomocí Muellerovy matice. V textu se znovu odvodí Stratton-Chu difrakční integrál z Maxwellových rovnic. Výpočet modelu proběhl numericky v programu MATLAB a jsou zde prezentovány výsledky porovnávající skalární a vektorový difrakční integrál.Abstract:
This master thesis pursue modeling of di raction and polarization response by vector di raction integral and display di racted pattern using Mueller matrix. The Stratton- Chu di raction integral is repeated derived from the Maxwell equations. Numerical calculations were performed in MATLAB and presented the results comparing scalar and vector di raction integral.
Jazyk práce: English
Datum vytvoření / odevzdání či podání práce: 15. 5. 2017
Identifikátor:
http://hdl.handle.net/10084/117230
Obhajoba závěrečné práce
- Obhajoba proběhla 8. 6. 2017
- Vedúci: Kamil Postava
- Oponent: Dalibor Lukáš
Citační záznam
Citace dle ISO 690:
KOHUT, Tomáš. \textit{Modeling of polarization properties of diffracting surfaces}. Online. Diplomová práca. Ostrava: Vysoká škola báňská - Technická univerzita Ostrava, Univerzitní studijní programy. 2017. Dostupné z: https://theses.cz/id/xp8cc1/.
Plný text práce
Právo: Plné texty vysokoškolských kvalifikačních prací obhájených na Vysoké škole báňské - Technické univerzitě Ostrava jsou uloženy v repozitáři DSpace. Přístup k plným textům mají všichni uživatelé bez omezení. Přístup je omezen pouze ve výjimečných případech, zpravidla z důvodu ochrany duševního vlastnictví. Nepřístupné práce jsou označeny jako closedAccess nebo embargoedAccess. Tištěné verze prácí jsou uloženy v Ústřední knihovně VŠB-TUO a jsou prezenčně přístupné ve studovně diplomových prací. Další nakládání s prací (kopírování, opisy, MVS) se řídí Knihovní a výpůjčním řádem Ústřední knihovny VŠB-TUO.
Obsah online archivu závěrečné práce
Zveřejněno v Theses:- autentizovaným zaměstnancům ze stejné školy/fakulty
Jak jinak získat přístup k textu
Instituce archivující a zpřístupňující práci: VŠB - Technická univerzita OstravaVŠB - Technical University of Ostrava
Univerzitní studijní programyMaster programme / odbor:
Nanotechnologie / Nanotechnologie
Práce na příbuzné téma
-
Optical activity measurement using Mueller matrix ellipsometry
Daniel Vala -
Mueller matrix microscopic polarimetry of anisotropic samples.
Adam Dušenka -
Study of optical anisotropic systems using Mueller matrix spectroscopy.
Jiří Dědek -
Characterization of special anisotropic structures using Mueller matrix ellipsometry
Daniel Vala -
Mueller matrix ellipsometry of special samples
Přemysl Ciompa -
Využití elipsometrie pro měření Muellerových matic k charakterizaci vlastností vybraných polarizačních komponent
Šimon BRÄUER -
Muellerova polarimetrie rozhraní dvou izotropních prostředí
Pavel MICHAL -
Cena elektrické energie na českém trhu a její odraz v reálné ekonomice
Tomáš Opplt