Využití elektronové a světelné mikroskopie pro analýzu tvrdokovových návarů – Bc. Miloš Cerman
Bc. Miloš Cerman
Diplomová práce
Využití elektronové a světelné mikroskopie pro analýzu tvrdokovových návarů
Utilizing electron and light microscopy for analyzing hard metal overlays.
Anotace:
Téma využití elektronové a světelné mikroskopie pro analýzu tvrdokovových ná-varů nabízí široké možnosti výzkumu, které mohou vést k cenným poznatkům v oblasti materiálového inženýrství. Cílem závěrečné práce je vyhodnotit vhodné parametry nava-řovacího proudu, pro vytvoření optimálních strukturních fází, které maximálně odolávají abrazivnímu opotřebení. Zásadním faktorem je vliv promíšení svarového …víceAbstract:
The topic of utilizing electron and light microscopy for analyzing hard metal overlays offers wide research opportunities that can lead to valuable insights in the field of materials engineering. The goal of this final thesis is to evaluate suitable parameters for the welding current to create optimal structural phases that can resist abrasive wear to the maximum extent. The crucial factor is the influence …více
Jazyk práce: čeština
Datum vytvoření / odevzdání či podání práce: 20. 4. 2023
Obhajoba závěrečné práce
- Obhajoba proběhla 29. 5. 2023
- Vedoucí: doc. Ing. Jiří Votava, Ph.D.
- Oponent: Tomáš Rudolf, externi
Citační záznam
Plný text práce
Obsah online archivu závěrečné práce
Zveřejněno v Theses:- autentizovaným zaměstnancům ze stejné školy/fakulty
Jak jinak získat přístup k textu
Instituce archivující a zpřístupňující práci: Mendelova univerzita v Brně, Agronomická fakultaMendelova univerzita v Brně
Agronomická fakultaMagisterský studijní program:
Technické znalectví a oceňování
Práce na příbuzné téma
-
Promísení svarového kovu spoje u obloukových technologií svařování
David Škrobánek -
Využití elektronové mikroskopie pro analýzu strukturních fází technických materiálů
Miloš Cerman -
Elektronová mikroskopie na biologických vzorcích
Ondřej Židek -
Posouzení vlivu modifikátorů na mikrostrukturu vybraných slitiny typu Al-Si prostřednictvím metod světelné a elektronové mikroskopie
Jiří HEINRICH -
Acceleration of image processing algorithms for single particle analysis by electron microscopy
David Střelák -
Acceleration of image processing algorithms for single particle analysis by electron microscopy
David Střelák -
Low Energy Electron Microscopy
Benjamin Daniel