Theses on the same topic (having an identical keyword):
elipsometrieKeywords ordered alphabetically | Keywords ordered by occurrence rate
Elektronové vlastnosti kobaltitů studovaných pomocí elipsometrie
(Miroslav Golian)2020, Bakalářská práce, Přírodovědecká fakulta / Masarykova univerzita
• https://is.muni.cz/th/zs2o6/ | Aplikovaná fyzika / Nanotechnologie - aplikovaná fyzika | Theses on a related topic
Experimentální měření dielektrických funkcí pomocí elipsometrie
(Radim Slovák)2024, Bakalářská práce, Vysoké učení technické v Brně
• http://theses.cz/id//mzidoh// | Fyzikální inženýrství a nanotechnologie / | Theses on a related topic
Využití elipsometrie pro měření Muellerových matic k charakterizaci vlastností vybraných polarizačních komponent
(Šimon BRÄUER)2017, Bakalářská práce, Přírodovědecká fakulta / UNIVERZITA PALACKÉHO V OLOMOUCI
• http://theses.cz/id//szm8wr// | Fyzika / Optika a optoelektronika | Theses on a related topic
Optická elipsometrie
(Tomáš HORÁK)2016, Bakalářská práce, Přírodovědecká fakulta / UNIVERZITA PALACKÉHO V OLOMOUCI
• http://theses.cz/id//jelbq8// | Fyzika / Digitální a přístrojová optika | Theses on a related topic
Difrakční elipsometrie
(Zbyněk Novotný)2008, Bakalářská práce, Přírodovědecká fakulta / Masarykova univerzita
• https://is.muni.cz/th/tc3xj/ | Fyzika / | Theses on a related topic
Srovnání spektroskopické elipsometrie a spektroskopické reflektometrie při určování hodnot tlouštěk a optických konstant vybraných tenkých vrstev
(Tomáš Šamořil)2006, Bakalářská práce, Přírodovědecká fakulta / Masarykova univerzita
• https://is.muni.cz/th/tmu7n/ | Fyzika / | Theses on a related topic
Modulační elipsometrie
(Jindřich Oulehla)2008, Diplomová práce, Přírodovědecká fakulta / Masarykova univerzita
• https://is.muni.cz/th/gtnyo/ | Fyzika / | Theses on a related topic
Elipsometrie tenkých vrstev
(Zbyněk Novotný)2010, Diplomová práce, Vysoké učení technické v Brně
• http://theses.cz/id//1xtqh4// | Aplikované vědy v inženýrství / | Theses on a related topic
Optical and magneto-optical spectroscopic ellipsometry of thin layers and nanostructures
(Ondřej Vlašín)2009, Diplomová práce, Univerzitní studijní programy / Vysoká škola báňská - Technická univerzita Ostrava
• http://hdl.handle.net/10084/74725 | Nanotechnologie / | Theses on a related topic
Optical activity measurement using Mueller matrix ellipsometry
(Daniel Vala)2020, Diplomová práce, Univerzitní studijní programy / VŠB – Technická univerzita Ostrava
• http://hdl.handle.net/10084/141702 | Nanotechnologie / | Theses on a related topic