Modelování tržního rizika pomocí metod strojového učení a umělé inteligence – Mgr. Ondřej Lasák
Mgr. Ondřej Lasák
Diplomová práce
Modelování tržního rizika pomocí metod strojového učení a umělé inteligence
Modelling market risk using machine learning and artificial intelligence methods
Anotace:
Práce se zabývá možnostmi, nástroji a technikami strojového učení (machine learning, ML), které lze využít pro modelování a predikci tržního rizika. Práce zprvu pojednává o koncepci tržního rizika a jeho způsobech vyjádření. Tržní riziko je vnímáno jako variabilita časové řady a lze jej tedy v této práci považovat za synonymum pro volatilitu. Práce následně poskytne obecný úvod do problematiky a vytyčí …víceAbstract:
The thesis concerns with the possibilities, tools and techniques of ma-chine learning (ML), which can be used for modelling and prediction of market risk. The thesis first discusses the concept of market risk and its ways of expression. Market risk is viewed as time-series variability and can be considered synonymous with volatility in this paper. The thesis then provides a general introduction to …více
Jazyk práce: čeština
Datum vytvoření / odevzdání či podání práce: 12. 5. 2023
Identifikátor:
https://is.muni.cz/th/to176/
Obhajoba závěrečné práce
- Obhajoba proběhla 20. 6. 2023
- Vedoucí: doc. Ing. Daniel Němec, Ph.D.
- Oponent: Ph.D. Oleg Deev
Citační záznam
Plný text práce
Obsah online archivu závěrečné práce
Zveřejněno v Theses:- světu
Jak jinak získat přístup k textu
Instituce archivující a zpřístupňující práci: Masarykova univerzita, Ekonomicko-správní fakultaMasarykova univerzita
Ekonomicko-správní fakultaMagisterský studijní program / obor:
Finance / Finance
Práce na příbuzné téma
-
Implementation of Sample Selection Estimators into Double Machine Learning Framework
Michaela Kecskésová -
Machine Learning applications for genomic and proteomic sequences
Eva Maršálková -
Image Analysis Using Machine Learning Models
Norbert Komiňák -
Premediation & Xeno-Patterning: Imagining the World Without Us through Deep and Machine Learning
Dustin Breitling -
Digital document analysis using machine learning methods
Nicholas Čapek -
Using machine learning methods for predicting results of MammaPrint and Luminal-Type Tests
Oliver Rainoch -
Machine Learning on Microcontrollers
Jan Vondrášek -
Machine learning analysis and cataloging of extragalactic sources
Matej Kosiba