Růst krystalů v tenkých vrstvách Ge-Se – Eliška Hrubcová
Eliška Hrubcová
Bakalářská práce
Růst krystalů v tenkých vrstvách Ge-Se
Crystal growth in Ge-Se thin films
Anotace:
Tato bakalářská práce se věnuje studiu růstu krystalů ve vzorcích chalkogenidových tenkých vrstev o složení Ge20Se80. Krystalizace byla studována zejména infračervenou mikroskopií, dále elektronovou mikroskopií spolu s energiově disperzní spektroskopií a rentgenovou difrakční analýzou. Z experimentálních dat byla určena aktivační energie růstu krystalů a byla porovnána s literaturou.Abstract:
This bachelor's thesis is devoted to the study of crystal growth in Ge20Se80 chalcogenide thin films. Crystallization was studied mainly by infrared microscopy, electron microscopy coupled with energy dispersive spectroscopy, and X-ray diffraction analysis. From the experimental data, the activation energy of crystal growth was determined and compared with the literature.
Jazyk práce: čeština
Datum vytvoření / odevzdání či podání práce: 18. 6. 2024
Zveřejnit od: 31. 12. 2999
Obhajoba závěrečné práce
- Vedoucí: Ing. Jaroslav Barták, Ph.D.
Citační záznam
Jak správně citovat práci
Hrubcová, Eliška. Růst krystalů v tenkých vrstvách Ge-Se. Pardubice, 2024. bakalářská práce (Bc.). Univerzita Pardubice. Fakulta chemicko-technologická
Plný text práce
Právo: Autor si nepřeje zpřístupnění práce veřejnosti
Obsah online archivu závěrečné práce
Zveřejněno v Theses:- Soubory jsou nedostupné.
Jak jinak získat přístup k textu
Instituce archivující a zpřístupňující práci: Univerzita Pardubice, Fakulta chemicko-technologickáUniverzita Pardubice
Fakulta chemicko-technologickáBakalářský studijní program / obor:
Chemie / Chemie
Práce na příbuzné téma
-
Viskozita a růst krystalů v amorfních vzorcích chalkogenidového skla Ge25Se75
David Vaculík -
Chalkogenidová skla, materiály pro mikro- a nanotechnologie
Hana Přibylová -
Studie krystalizace v tenké vrstvě (GeS\dindex{2})\dindex{0,1}(Sb\dindex{2}S\dindex{3})\dindex{0,9} pomocí optické mikroskopie
Michaela Horová -
Kinetika krystalizace v podchlazených chalkogenidových systémech
Jaroslav Barták -
Viskozita a růst krystalů v tenké vrstvě Se95Te5
Magdaléna Casková -
Strukturní analýza vodivé vrstvy naprášené na křemíkovou desku
Jiří Havelka -
Analýza struktury porézních vrstev pomocí mikroskopie atomové síly
Martin Hasoň -
Analýza morfologie horních rozhraní tenkých vrstev GaN pomocí mikroskopie atomové síly
Martin Hasoň