Mueller matrix ellipsometry of special samples – Přemysl Ciompa
Přemysl Ciompa
Bachelor's thesis
Mueller matrix ellipsometry of special samples
Mueller matrix ellipsometry of special samples
Anotácia:
Tato bakalářská práce se zabývá použitím Elipsometrie Muellerových matic k charakterizaci speciálních vzorků. To zahrnuje měření na elipsometru RC2 Woollam a následné zpracování naměřených dat v softwaru CompleteEase. V této práci jsou zkoumány 3 typy vzorků a to systém tenkých vrstev Au/Cr na skleněném substrátu, vzorky Sn vrstev o tloušťkách 10, 20, 50 a 110 nm na skleněném substrátu a anizotropický …viacAbstract:
The bachelor thesis deals with use of Mueller matrix Ellipsometry for characterization of special samples. It involves experimental measurement using RC2 Woollam ellipsometer and subsequental data analysis using CompleteEase software. Three types of samples are analyzed in this thesis, Au/Cr multilayer on a glass substrate, Sn thing layers 10, 20, 50 and 110 nm thick on a glass substrate and nonlinear …viac
Jazyk práce: English
Datum vytvoření / odevzdání či podání práce: 16. 5. 2016
Identifikátor:
http://hdl.handle.net/10084/115152
Obhajoba závěrečné práce
- Obhajoba proběhla 8. 6. 2016
- Vedúci: Kamil Postava
- Oponent: Martin Foldyna
Citační záznam
Plný text práce
Právo: Plné texty vysokoškolských kvalifikačních prací obhájených na Vysoké škole báňské - Technické univerzitě Ostrava jsou uloženy v repozitáři DSpace. Přístup k plným textům mají všichni uživatelé bez omezení. Přístup je omezen pouze ve výjimečných případech, zpravidla z důvodu ochrany duševního vlastnictví. Nepřístupné práce jsou označeny jako closedAccess nebo embargoedAccess. Tištěné verze prácí jsou uloženy v Ústřední knihovně VŠB-TUO a jsou prezenčně přístupné ve studovně diplomových prací. Další nakládání s prací (kopírování, opisy, MVS) se řídí Knihovní a výpůjčním řádem Ústřední knihovny VŠB-TUO.
Obsah online archivu závěrečné práce
Zveřejněno v Theses:- autentizovaným zaměstnancům ze stejné školy/fakulty
Jak jinak získat přístup k textu
Instituce archivující a zpřístupňující práci: VŠB - Technická univerzita OstravaVŠB - Technical University of Ostrava
Univerzitní studijní programyBachelor programme / odbor:
Nanotechnologie / Nanotechnologie
Práce na příbuzné téma
-
Využití elipsometrie pro měření Muellerových matic k charakterizaci vlastností vybraných polarizačních komponent
Šimon BRÄUER -
Materiály pro solární palivové články
Marek Tlolka -
Mueller matrix microscopic polarimetry of anisotropic samples.
Adam Dušenka -
Depolarizace ve spektroskopické elipsometrii
Jan Chochol -
Study of optical anisotropic systems using Mueller matrix spectroscopy.
Jiří Dědek -
Optical activity measurement using Mueller matrix ellipsometry
Daniel Vala -
Characterization of special anisotropic structures using Mueller matrix ellipsometry
Daniel Vala -
Využití elipsometrie pro měření Muellerových matic k charakterizaci vlastností vybraných polarizačních komponent
Šimon BRÄUER