Určení parametrů jednoduché tenké vrstvy pomocí spektra odrazivosti.

Matúš ÁGH

Bakalářská práce

Measurement of single thin layer parameters from reflectance spectrum

Anotace:

Táto práca sa venuje meraniu odrazivosti rovinných plôch pomocou spektrálneho fotometru a ďalej je popísané využitie týchto meraní pre výpočet parametrov jednoduchej neabsorbujúcej tenkej vrstvy. Výpočet parametrov bol riešený iteračnou metódou v dvoch krokoch. Algoritmus riešenia bol naprogramovaný v prostredí Matlabu. Programovací kód, v ktorom boli výpočty prevedené, je v záverečnej kapitole uvedený a podrobne popísaný.

Abstract:

This thesis deals with measuring reflectance of planar surfaces using spectral photometer and with calculation of optical parameters of single non-absorbing thin layer on the basis of reflectance measurements. Two-step iteration method was used to calculate thickness and refractive index. Computational algorithm was programmed in Matlab environment. Source code used for final computing is shown and thoroughly described in the last chapter.

Klíčová slova

reflektancia, tenká vrstva, film, index lomu, optické parametre

Jazyk práce: čeština

Datum vytvoření / odevzdání či podání práce: 7. 5. 2015

Zveřejnit od: 7. 5. 2015

Obhajoba závěrečné práce

• Vedoucí: RNDr. Ing. Jan Podloucký

UNIVERZITA PALACKÉHO V OLOMOUCI

Přírodovědecká fakulta

Bakalářský studijní program / obor:
Fyzika / Digitální a přístrojová optika