Optical activity measurement using Mueller matrix ellipsometry – Daniel Vala
Daniel Vala
Diplomová práce
Optical activity measurement using Mueller matrix ellipsometry
Optical activity measurement using Mueller matrix ellipsometry
Anotace:
Tato diplomová práce se zabývá měřeními opticky aktivních materiálů prostřednictvím spektroskopické elipsometrie Muellerovy matice. První část práce je věnována rigoróznímu teoretickému popisu optické aktivity za použití Condonova-Fedorovova přístupu. V práci je diskutován vliv materiálové symetrie na optickou aktivitu. V práci byla dále navržena unikátní metoda měření chirálních roztoků sacharidů …víceAbstract:
This master thesis is focused on the Mueller matrix spectroscopic ellipsometry measurements of the optically active materials. The first part is devoted to the rigorous theoretical description of the optical activity using Condon-Fedorov approach. The effect of material symmetry on the optical activity is discussed. We propose a novel Mueller matrix ellipsometry method of the saccharide solution optical …více
Jazyk práce: angličtina
Datum vytvoření / odevzdání či podání práce: 8. 5. 2020
Identifikátor:
http://hdl.handle.net/10084/141702
Obhajoba závěrečné práce
- Obhajoba proběhla 30. 6. 2020
- Vedoucí: Kamil Postava
- Oponent: Morten Kildemo
Citační záznam
Citace dle ISO 690:
VALA, Daniel. \textit{Optical activity measurement using Mueller matrix ellipsometry}. Online. Diplomová práce. Ostrava: Vysoká škola báňská - Technická univerzita Ostrava, Univerzitní studijní programy. 2020. Dostupné z: https://theses.cz/id/s2y2uq/.
Plný text práce
Právo: Plné texty vysokoškolských kvalifikačních prací obhájených na Vysoké škole báňské - Technické univerzitě Ostrava jsou uloženy v repozitáři DSpace. Přístup k plným textům mají všichni uživatelé bez omezení. Přístup je omezen pouze ve výjimečných případech, zpravidla z důvodu ochrany duševního vlastnictví. Nepřístupné práce jsou označeny jako closedAccess nebo embargoedAccess. Tištěné verze prácí jsou uloženy v Ústřední knihovně VŠB-TUO a jsou prezenčně přístupné ve studovně diplomových prací. Další nakládání s prací (kopírování, opisy, MVS)se řídí Knihovní a výpůjčním řádem Ústřední knihovny VŠB-TUO.
Obsah online archivu závěrečné práce
Zveřejněno v Theses:- autentizovaným zaměstnancům ze stejné školy/fakulty
Jak jinak získat přístup k textu
Instituce archivující a zpřístupňující práci: VŠB – Technická univerzita OstravaVŠB – Technická univerzita Ostrava
Univerzitní studijní programyMagisterský studijní program / obor:
Nanotechnologie / Nanotechnologie
Práce na příbuzné téma
-
Interpretation of Raman optical activity of nucleic acids
Věra Schrenková -
Characterization of special anisotropic structures using Mueller matrix ellipsometry
Daniel Vala -
Modeling and characterization of materials and nanostructures for photovoltaic applications.
Zuzana Mrázková -
Mueller matrix microscopic polarimetry of anisotropic samples.
Adam Dušenka -
Characterization of special anisotropic structures using Mueller matrix ellipsometry
Daniel Vala -
Characterization of special anisotropic structures using Mueller matrix ellipsometry
Daniel Vala -
Mueller matrix ellipsometry of special samples
Přemysl Ciompa -
Využití elipsometrie pro měření Muellerových matic k charakterizaci vlastností vybraných polarizačních komponent
Šimon BRÄUER