Možnosti Ramanovy spektroskopie při analýze padělků elektronických součástek

Bc. Karel JELÍNEK

Diplomová práce

The Possibilities Raman Spectroscopy for Counterfeit Component Analysis

Anotace:

Tato diplomová práce je zaměřena na objasnění pravosti elektronických součástek, zda pouţité materiály, z nichţ se pouzdra součástek skládají, obsahují stejné látkové sloţení jako originální ověřené součástky. Objasnění materiálového zastoupení je zkoumáno pomocí analytické metody Ramanovy spektroskopie. Teoretická část práce je zaměřena na výskyt nepůvodních součástek, dále jsou také uvedeny specifické znaky objevující se u nepůvodních součástek, ale rovněţ jsou představeny další metody přispívající k odhalení potenciálních padělků. V praktické části jsou popsána naměřená Ramanova spektra vybraných vzorků. Na průběh experimentálního měření navazuje také kapitola Vyhodnocení a diskuze hodnotící průběh měření.

Abstract:

This dissertation is focussing on clarification of authenticity of electronic components, especially on material composition. The aim was to sort out if the material composition of casing of non-original parts is identical with original ones. This was examined using Raman spectroscopy method. Theoretical part of dissertation is examining occurrence of non-original complements. New methods used in detecting counterfeits are also introduced. Measured Raman spectroscopy of selected samples is described in practical part. Development of experimental measurement is mentioned in the chapter evaluation and discussion which is appraising progress of measurement.

Klíčová slova

Ramanova spektroskopie, padělek elektronické součástky, nepůvodní součástka.

Jazyk práce: čeština

Datum vytvoření / odevzdání či podání práce: 14. 5. 2012

Zveřejnit od: 14. 5. 2012

Obhajoba závěrečné práce

Univerzita Tomáše Bati ve Zlíně

Fakulta aplikované informatiky

Magisterský studijní program / obor:
Inženýrská informatika / Bezpečnostní technologie, systémy a management